6月15日下午，詹文法教授在稼先楼南楼200教室开展《集成电路封装与测试》课程公开课。2025级电子信息工程专业1班和2班全体同学参加，学院部分教师到场观摩交流。
授课过程中，詹文法教授围绕集成电路测试这一核心环节，结合行业前沿与自主创新成果，系统讲解了集成电路测试的必要性、测试挑战、测试方法及测试流程。他通过详实的数据和案例，向学生展示了测试成本的高昂——例如顶配测试机价格可达千万元级、每秒测试成本高达数元，以及一颗高端芯片测试费约5元所产生的经济压力。同时，他深入剖析了测试难度增加、测试功耗过大等现实挑战，引导学生理解测试在集成电路产业链中的关键地位。
在测试方法讲解中，詹教授重点介绍了内建自测试（BIST）、外建自测试（BOST）以及基于ATE的自动测试策略，并结合晶圆、探针台、分选机、测试负载板等实际设备，生动还原了从晶圆测试（CP）到成品测试（FT）的全流程。他还结合自身团队的研究成果，如基于广义折叠的测试数据压缩、无理数存储测试向量等专利技术，展示了安庆师范大学在集成电路测试领域所承担的国家自然科学基金重大研究计划项目、省级重点研发计划以及多项产学研合作成果。
课堂上，詹教授紧密结合我国集成电路产业面临的“卡脖子”技术难题，介绍了团队获得的中国电子学会科技奖二等奖、安徽省科技进步奖三等奖等荣誉，以及主持多项国家自然科学基金和安徽省重点项目的科研历程。他勉励学生立足专业、勇于创新，树立科技报国的使命感与责任感，将个人成长融入国家芯片产业发展的大局。整堂课内容充实、案例鲜活、逻辑清晰，思政元素自然融入，师生互动热烈，取得了良好的教学效果。
本次公开课为学院教师提供了教学交流与课程思政建设的示范平台，也充分展现了电子信息专业在产教融合、科研反哺教学方面的积极探索。学院将持续推进此类教学示范活动，不断提升集成电路方向的人才培养质量。（撰稿/摄影 郑江云；审核：章礼华）
